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產品詳情
簡單介紹:
重慶代理 OTSUKA大塚電子 掃描型光通量量測裝置:HM-9050L
重慶代理 OTSUKA大塚電子 掃描型光通量量測裝置:HM-9050L
詳情介紹:
OTSUKA大塚電子
品牌:OTSUKA大塚
日本官網:https://www.otsukael.jp
醫用儀器:
二氧化碳碳同位素比分析裝置
紅外光譜分析儀POCONE,
血球細胞消除儀MM6-N,
分立的方式臨床化學自動分析儀NS-Prime,
熒光**層析讀取器DiaScan α,
分析儀器:
厚型粒度分析儀FPAR-1000,FPAR-1000AS,
膜厚儀:FPAR-1000,FPAR-1000AS,
反射分光膜厚儀:FE-3000,FE-3000L,FE-3700,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
手動和自動可切換的橢圓偏光膜厚儀,FE-5000,
自動可切換的橢圓偏光膜厚儀,FE-5300,FE-5500,FE-5600,FE-5700,
手動橢圓偏光膜厚儀,FE-5000S,
內置式膜厚監控器,FE-3,
半導體晶片厚度檢測儀,SF-450M,
TSV晶圓厚度測試儀,SF-3000M,
光譜干涉硅片測厚儀,SF-3,
光譜儀
瞬間多通道測光系統:MCPD-9800,MCPD-7700,MCPD-6800,MCPD-3700,
分光膜厚計
反射分光膜厚儀:FE-3000,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
橢圓偏光膜厚儀(自動):FE-5000,
橢圓偏光膜厚儀(手動):FE-5000S,
內置式膜厚監控器:FE-3,
半導體晶片厚度檢測儀:SF-450M,
TSV晶圓厚度測試儀:SF-3000M,
光譜干涉硅片測厚儀:SF-3,
TSV形狀檢測裝置:TS-3000,
LED光源評價儀:
積分半球:HM-1030,
積分半球:HM-1050,
掃描型光通量量測裝置:HM-9050L,
積分球:FM9300,
CIE平均化LED光度量測系統:AL-1000,
配光量測系統:GP-1000,
快速光分布測量系統:GP-7,
量子效率量測系統:QE-2000,
熒光膜檢測系統(傳輸熒光測量系統):DF-1000A,
FPD相關的檢查和評價設備 液晶顯示器(LCD)面板、模組檢測:LCD-7200,
液晶顯示器(LCD)面板、模組檢測:LCD-5200,
超高對比檢測儀:GC-1,
高感度分光放射輝度計:HS-1000,
FPD相關的檢查和評價設備:
動態畫面反應時間檢測儀:MPRT-2000,
動態畫面清晰度檢測儀:MR-2000,
相位差/光學材料量測設備:RETS-100,
低相位差高速檢測設備:RE-100,
OTSUKA平面顯示器(FPD)光電特性檢測,
OTSUKA液晶層間隙(Cell gap)量測設備,
OTSUKA彩色濾光片色度檢查機,
OTSUKA平面顯示器(FPD)大尺寸樣品專,
OTSUKA大塚OLED元件光電特性檢測設備,
Zeta電位,粒度測量系統:ELSZ-1000ZS,
zeta電位的測量系統:ELSZ-1000Z,
粒度測量系統:ELSZ-1000S,
流動式圖像分析粒子直徑、形狀測試裝置:Particle Insight,
粒徑測定系統:ELSZ-2,
電位測定系統:ELSZ-1,
厚型粒度分析儀:FPAR-1000AS,
厚型粒度分析儀:FPAR-1000,
光散射光度計:
動態光散射光度計:DLS-8000HL,DLS-8000HH,DLS-8000DL,DLS-8000DH,DLS-6500HL,DLS-6500SL,
靜態光散射光度計:LS-6500HL,
光纖的動態光散射光度計:FDLS-3000,
連續角度光散射光度計:CALLS-1000,
聚合物薄膜動力學分析儀:DYNA-3000,
高感度示差屈折計:DRM-3000,
品牌:OTSUKA大塚
日本官網:https://www.otsukael.jp
醫用儀器:
二氧化碳碳同位素比分析裝置
紅外光譜分析儀POCONE,
血球細胞消除儀MM6-N,
分立的方式臨床化學自動分析儀NS-Prime,
熒光**層析讀取器DiaScan α,
分析儀器:
厚型粒度分析儀FPAR-1000,FPAR-1000AS,
膜厚儀:FPAR-1000,FPAR-1000AS,
反射分光膜厚儀:FE-3000,FE-3000L,FE-3700,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
手動和自動可切換的橢圓偏光膜厚儀,FE-5000,
自動可切換的橢圓偏光膜厚儀,FE-5300,FE-5500,FE-5600,FE-5700,
手動橢圓偏光膜厚儀,FE-5000S,
內置式膜厚監控器,FE-3,
半導體晶片厚度檢測儀,SF-450M,
TSV晶圓厚度測試儀,SF-3000M,
光譜干涉硅片測厚儀,SF-3,
光譜儀
瞬間多通道測光系統:MCPD-9800,MCPD-7700,MCPD-6800,MCPD-3700,
分光膜厚計
反射分光膜厚儀:FE-3000,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
橢圓偏光膜厚儀(自動):FE-5000,
橢圓偏光膜厚儀(手動):FE-5000S,
內置式膜厚監控器:FE-3,
半導體晶片厚度檢測儀:SF-450M,
TSV晶圓厚度測試儀:SF-3000M,
光譜干涉硅片測厚儀:SF-3,
TSV形狀檢測裝置:TS-3000,
LED光源評價儀:
積分半球:HM-1030,
積分半球:HM-1050,
掃描型光通量量測裝置:HM-9050L,
積分球:FM9300,
CIE平均化LED光度量測系統:AL-1000,
配光量測系統:GP-1000,
快速光分布測量系統:GP-7,
量子效率量測系統:QE-2000,
熒光膜檢測系統(傳輸熒光測量系統):DF-1000A,
FPD相關的檢查和評價設備 液晶顯示器(LCD)面板、模組檢測:LCD-7200,
液晶顯示器(LCD)面板、模組檢測:LCD-5200,
超高對比檢測儀:GC-1,
高感度分光放射輝度計:HS-1000,
FPD相關的檢查和評價設備:
動態畫面反應時間檢測儀:MPRT-2000,
動態畫面清晰度檢測儀:MR-2000,
相位差/光學材料量測設備:RETS-100,
低相位差高速檢測設備:RE-100,
OTSUKA平面顯示器(FPD)光電特性檢測,
OTSUKA液晶層間隙(Cell gap)量測設備,
OTSUKA彩色濾光片色度檢查機,
OTSUKA平面顯示器(FPD)大尺寸樣品專,
OTSUKA大塚OLED元件光電特性檢測設備,
Zeta電位,粒度測量系統:ELSZ-1000ZS,
zeta電位的測量系統:ELSZ-1000Z,
粒度測量系統:ELSZ-1000S,
流動式圖像分析粒子直徑、形狀測試裝置:Particle Insight,
粒徑測定系統:ELSZ-2,
電位測定系統:ELSZ-1,
厚型粒度分析儀:FPAR-1000AS,
厚型粒度分析儀:FPAR-1000,
光散射光度計:
動態光散射光度計:DLS-8000HL,DLS-8000HH,DLS-8000DL,DLS-8000DH,DLS-6500HL,DLS-6500SL,
靜態光散射光度計:LS-6500HL,
光纖的動態光散射光度計:FDLS-3000,
連續角度光散射光度計:CALLS-1000,
聚合物薄膜動力學分析儀:DYNA-3000,
高感度示差屈折計:DRM-3000,